微少電流・高抵抗測定、部分放電試験のための環境

微少電流・高抵抗測定、部分放電試験のためのシールド環境

アプリケーション

高抵抗測定は2次電池や半導体で用いる電気絶縁材料、コンデンサやプリント基板などの電子部品、また各種合成樹脂やゴム材料など幅広い分野において、研究開発から製造、品質検査まで実施されます。

高電圧印加時の半導体素子のリーク電流などを、高感度・高精度に測定するには、誘導ノイズや静電結合、誤差電流を最小にするための配慮(EUTから測定器までを完全にシールドする)が必要です。

当社では様々なフィクスチャサイズに対応できるシールドボックスをご用意しています。

ソリューション

図-微少電流・高抵抗測定、部分放電試験のためのシールドボックス

シールドボックス各種デモ機ご用意しております。

対象アプリケーション

  • 材料化学(バイオマテリアル、セラミック、エラストマー、薄膜、誘電材料、電気化学、強誘電体、グラフェン、金属、有機材料、ナノマテリアル、ポリマー、半導体など)
  • デバイス/電子コンポーネント(キャパシタ、抵抗、ダイオード、センサ、TFT/CNTなどのトランジスタ、光電子部品、太陽電池セルなど)
  • 電子/非電子システム(イオン・ビーム、電子ビームなど)

システム構成・価格

シールドボックス [MY1510N] ¥159,000
シールドボックス [MY1520N] ¥348,000
シールドボックス [MY1530N] ¥770,000
ピコアンメータ,エレクトロメータ 別途

※詳細は弊社営業担当までお問合せ下さい。

製品紹介